· 由分子量标定曲线及峰切片面积计算高分子物质的各种统计分子量（数均、重均、Z均、Z+1均、粘均、10%面积前重均、90%面积后重均）及分子量分布宽度指数、累积重量分布曲线、切片细节。
· 提供窄分布校正和宽分布校正两种校正方式。
· 可同时存储多根柱子的分子量标定曲线。
· 待测样品峰可作为一个整体或切割为若干个峰分别进行分子量计算。
· 可由若干组实测运动粘度及分子量数据回归普适校正参数α、K。
· 可对负峰进行翻转以消除倒吸峰的影响。
· 同时含有审计追踪和用户权限管理功能，符合国家药典委员会新版药典规定。
· 如果原仪器配套软件可输出AIA（或ANDI）格式（文件名后缀为cdf）的文件，则可不连接信号采集器。
· 可选择中文版或英文版。